도전 :
* Heisenberg의 불확실성 원리 : 이 기본 원칙은 완벽한 정확도로 입자의 위치와 운동량을 동시에 알 수 없다는 것을 나타냅니다. 하나를 더 정확하게 측정할수록 다른 것을 덜 측정 할 수 있습니다.
* 파동 입자 이중성 : 전자 및 광자와 같은 작은 입자는 파도와 같은 거동을 나타냅니다. 이렇게하면 고정 지점이 아닌 확률 분포에 의해 위치가 묘사되므로 정확한 위치를 찾아냅니다.
* 회절 및 간섭 : 매우 작은 입자를 관찰하려고 할 때, 관찰 행위는 특히 빛을 사용하여 그것을 보는 경우 그 위치에 영향을 줄 수 있습니다. 빛은 입자와 상호 작용하여 이미지를 흐리게하는 회절 또는 간섭 패턴을 유발할 수 있습니다.
기술 :
* 현미경 :
* 광학 현미경 : 빛의 파장에 의해 제한되지만 여전히 비교적 큰 입자를 보는 데 사용될 수 있습니다.
* 전자 현미경 (Tem &Sem) : 빛 대신 전자를 사용하여 훨씬 높은 해상도를 달성하여 나노 미터 규모의 물체를 영상화 할 수 있습니다.
* 스캐닝 프로브 현미경 (AFM, STM) : 날카로운 팁을 사용하여 재료의 표면을 스캔하여 원자 구조의 상세한 이미지를 제공합니다.
* 분광학 : 입자에 의해 방출되거나 흡수 된 빛을 분석함으로써, 에너지 수준에 대한 정보와 잠재적 위치에 대한 정보는 추론 될 수있다.
* 산란 기술 : 입자가 빛, X- 선 또는 중성자를 산란시키는 방법을 관찰하면 크기, 모양 및 분포에 대한 정보를 공개 할 수 있습니다.
* 양자 기술 :
* 양자 단층 촬영 : 일련의 측정을 사용하여 위치를 포함하여 시스템의 완전한 양자 상태를 재구성합니다.
* 얽힘 : 더 큰 입자로 작은 입자를 얽매여서, 작은 입자의 위치는 더 큰 입자에서 이루어진 측정에서 추론 될 수있다.
결론 :
매우 작은 입자의 위치를 결정하기위한 단일 완벽한 방법은 없습니다. 최상의 접근법은 입자의 크기, 원하는 수준의 정밀도 및 연구의 맥락에 따라 다릅니다. 종종 포괄적 인 이해를 얻으려면 기술의 조합이 필요합니다.
