* 스캐닝 전자 현미경 (SEM)은 일반적으로 최대 100,000x의 최대 확대를 갖는 반면, TEM (Transmission Electron Microscopes)은 물체를 최대 1,000,000x 이상 확대 할 수 있습니다.
* 스캐닝 전자 현미경 (SEM)은 일반적으로 최대 100,000x의 최대 확대를 갖는 반면, TEM (Transmission Electron Microscopes)은 물체를 최대 1,000,000x 이상 확대 할 수 있습니다.
